快速熔断器的I2t的选择

 

　　熔断器的熔断时间t与熔断电流I的大小有关，其规律是与电流的平方成反比。图3表示t∞1/I2的关系曲线，称为熔断器的秒-安特性曲线。  

 

　　 

　　由于各种电器设备（包括电网）都有一定的过载能力，当过载较轻时可以允许较长时间运行，而超过某一过载倍数时，相应要求熔断器在一定时间内熔断。选择熔断器保护过载和短路，必须了解用电设备的过载特性，使这一特性恰当地处在熔断器秒-安特性的保护范围之内。 

 

　　由图3可见，熔断电流Io的熔断时间在理论上是无限大的，称为最小融化电流或临界电流，即通过熔体的电流小于临界值就不会熔断。所以选择熔体的额定电流 Ie应小于Io；通常取Io与Ie的比值为1.5～2.0，称作熔化系数。该系数反映熔断器在过载时的不同保护特性，如要使熔断器能保护小过载电流，融化系数就应该低些；为了避免电动机起动时的短时过电流使熔体熔化，融化系数就应高些。 

 

　　快速熔器电流通过能力满足系统短路电流的要求后，发生短路故障时可以隔离故障电流，但能否保护所串联的半导体器件则必须分析二者的I2t值。只有当快速熔断器的I2t值小于半导体器件I2t值时，才能对半导体器件起到保护作用。短路故障时I2t值分为两个阶段，即弧前I2t和熔断I2t。熔体金属从固态转为液态的时间是弧前时间，大约1.0～2.0ms，可以认为是绝热过程，此时间段快速熔断器产生的电流时间积分可以认为是一定值，由设计来确定。弧前I2t值对于不同的材料其值也不同，对于每一种材料它是一个常数。当熔体金属变为蒸气时电弧始燃，在燃弧过程中电流由限流值降至零，此阶段的I2t即为熔断I2t，它是一个变量。这一过程主要依靠填料被腐蚀而吸收能量。 请登陆:输配电设备网 浏览更多信息 

 

　　在设计快速熔断器时，为满足半导体器件不断提高的额定电流，要采取许多措施，而不能简单地用算术方法来选择快速熔断器。实验证明，当额定电流增加1倍时，快速熔断器的I2t值是原来的4 倍，而半导体器件I2t值的增加要小的多。要使快速熔断器降低I2t值有较大的难度，只有多方面采取措施，如合理的熔片分布、缩短熔体长度、减小电弧栅和提高灭弧材料的熄弧能力等。I2t值是精选快速熔断器的重要指标之一。 

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